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二硫化鎢XRD圖
二硫化鎢XRD圖即二硫化鎢(WS2)的X-射線繞射分析,利用一種功能強(qiáng)大的非破壞性分析技術(shù),偵測(cè)WS2晶的特性。XRD提供結(jié)構(gòu)、相位、首選的晶體取向(紋理)和其他結(jié)構(gòu)參數(shù)分析,例如平均細(xì)微性、結(jié)晶度、張力和晶體缺陷等等。
左圖為二硫化鎢XRD圖;右圖為納米顆粒二硫化鎢XRD圖。
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