炭化タングステン粉末のSEM寫真

SEMは、走査電子顕微鏡、英語と呼ばれScanning Electron Microscope。すなわち、電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、走査畫像の拡大寫真であるSEM寫真。走査型電子顕微鏡の試料は、特に金屬製品のための三辺にその構(gòu)造、多面的な観察領(lǐng)域を観察するために非常に簡単であり、非常に薄いシート狀に切斷しません。炭化タングステン粉末は、単純な平滑走査することができます。ビーム走査を介してSEM粉末は、汚染は、最終生成物の直接拡大寫真を観察することができます。數(shù)十倍、非常に高いスケーラビリティを數(shù)から複數(shù)回増幅しました。

タングステン炭化物粉末のSEM寫真は、部分円の粒狀性を示しました。粉砕および未粉砕粉末との差が大きいが、それは通常、タングステンカーバイド粉末、コバルト粉末、タングステンカーバイド製品の生産のために粉砕した後、混合、すなわち、炭化製品と組み合わせて使用されます。この時の炭化タングステン粉末は、仕様書の電子顕微鏡寫真はありませんでした。

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